“見えない界面”を非破壊で計測―和周波発生分光（SFG）による界面解析
2025年11月17日～28日開催
- セミナー（無料）
- 主催・共催イベント
- オンライン
開催概要
プログラム詳細
本セミナーはオンラインによるオンデマンド配信です。視聴可能期間中であれば、何度でも繰り返しご覧いただけます。
開催日時
2025年11月17日(月曜日)10:00 ～ 2025年11月28日(金曜日)23:59
参加費
無料
本セミナーについて
本セミナーでは、和周波発生分光（SFG: Sum Frequency Generation spectroscopy） を用いた表面・界面の解析技術を、企業の研究開発・製品開発にどう活かせるかに焦点を当てます。
SFGは、接着・樹脂・エレクトロニクス・エネルギーデバイスなど、製品性能や信頼性を左右する「界面」現象を非破壊で直接捉えることができる希少な手法です。従来の表面分析手法では困難だった「埋もれた界面」や「動作環境下の界面挙動」を観測できる点が大きな特長です。
実際の材料・製品を対象とした分析事例を通じ、不具合原因の特定、信頼性の改善、新規機能の創出に役立つSFGの可能性を紹介します。
■和周波発生分光（SFG）
■他の表面分析手法との比較
分析法 | 検出感度 | 分子選択性 | 非破壊性 | オペランド測定の適用 |
|---|---|---|---|---|
X線光電子分光 （XPS） | 数 nm | 元素 | △（真空） | △ |
飛行時間型二次イオン質量分析 （TOF-SIMS） | 1～3 nm | 断片 | ×（破壊） | × |
赤外反射吸収分光 （IRRAS） | 数 nm～ | 高（振動） | ◎ | ◎ |
SFG | 表面・界面：分子レベル反転対称性の崩れたバルク | 高（振動） | ◎ | ◎ |
こんな方におすすめ
- 接着剤・樹脂メーカー R&D 担当者： 剥離や密着課題を解決したい方
- エレクトロニクス企業 技術開発者： 高信頼性の界面制御技術を模索中の方
- エネルギー企業・電池メーカー 技術者： 動作環境下の界面挙動を理解し改良したい方
- 分析・評価部門： 製品不良の原因解析を効率化したい方
■主要ポイント
- 現場課題の解決につながる界面分析
接着不良、剥離、劣化などの原因を可視化 - 競争力強化に直結する応用
電子材料・バッテリー・樹脂の性能向上 - その場観察（オペランド測定）による実環境解析
温度・電場・動作下での界面挙動を把握 - 既存手法では見えない情報
分子配向や界面官能基の直接観測 - 産業への波及効果
製品・技術の化学的エビデンスの確保、新製品開発の加速
スケジュール（約45分）
題目 | 内容 |
|---|---|
| イントロダクション | ▶企業における界面問題の実例（剥離・劣化・性能低下） ▶なぜ従来手法では解決が難しいのか |
| 和周波発生分光（SFG）の特徴 | ▶他の分析手法との違い ▶企業の課題解決に活きる独自の強み |
| 応用事例の紹介 | ▶接着剤界面の反応解析 → 剥離原因の特定 ▶ポリマー表面の分子配向解析 → 密着性改善指針 ▶エレクトロニクス応用 → 動作下での界面挙動観察 |
| 企業での活用シナリオ | ▶新製品開発・信頼性評価・不具合解析の具体例 |
| まとめと展望 | ▶今後の産業応用の広がり |
キーワード
接着不良解析
構造材（自動車部材）
電子材料開発（デバイス基板）
バッテリー・エネルギーデバイス
界面解析技術
オペランド測定
スピーカー紹介
産業技術総合研究所 材料・化学領域 研究企画室 企画主幹 （兼）材料基盤研究部門 接着・界面研究グループ 主任研究員
赤池 幸紀
株式会社東京インスツルメンツ 技術部 主任
山本 貴士 氏