2026年4月13日･16日開催 「計量標準総合センター オープンデイ」計量標準がつなぐ産業応用 シリーズ第三弾 ナノの世界を測る・視る – 計測技術で切り拓く材料評価と産業応用の未来

イベント概要

産業技術総合研究所・計量標準総合センター（NMIJ）が20年以上にわたり開催してきた「NMIJ成果発表会」は、今年度から名称を改め、「計量標準総合センター・オープンデイ」として2026年1月29日に開催いたしました。本イベントは、NMIJの1年間の研究成果を社会へ広く発信するとともに、産業界や研究機関との将来的な連携につながる計測技術を共有することを目的としています。従来のトピックス講演に加え、ラボ見学や、サテライトイベントも併催し、計量標準・計測技術をより身近に感じていただける機会として実施いたしました。

本ウェビナーでは、当日現地へお越しいただけなかった皆様を対象に、シリーズ3としてNMIJが取り組むナノスケールの世界を可視化する最新計測技術を、5つのトピックに分けて再配信でお届けします。

半導体デバイスの熱マネジメントに欠かせない薄膜の面直・面内方向熱拡散率測定技術、試料の情報を正確にとらえるための多角的なSEM観察技術、品質管理・ライン管理で求められる粒子径のオンザフライ計測技術、高速かつマルチモーダルに対応した放射光X線によるオペランド・マルチスケール分析技術、原子レベルの格子欠陥から非破壊で検出可能な陽電子による空孔計測技術など、産業界で必要とされる計測技術の最新動向をご紹介します。
半導体デバイスなど薄膜材料の評価を行いたい方、SEM観察の最近のトレンドや注意点が知りたい方、様々な粒子計測を見える化したい方、電池材料やナノ材料などの評価に興味がある方、材料の機能性向上や劣化抑制のために空隙評価が必要な方にとって、自社の課題解決や新たなビジネス創出のヒントとなる内容です。皆様のご参加を心よりお待ちしております。
 

こんな方におすすめ

• 薄膜の熱物性評価や半導体デバイスの熱設計をしたい方
• SEMの取得条件・解釈方法についてレベルアップしたい方
• リアルタイム・生産ラインなど実用的な粒子計測に興味がある方
• 放射光X線により効率的・効果的に材料評価を行いたい方
• 材料中のサブナノ～ナノスケールの空孔を評価したい方
   

プログラム

TOPIC 1：時間領域サーモリフレクタンス法による薄膜の面直・面内方向熱拡散率測定技術の開発
TOPIC 2：SEM/FIB-SEMでみえるもの ― 多角的な材料評価・計測
TOPIC 3：見える化の次へ ― 品質管理・ライン管理を支える粒度精密化技術とオンザフライ計測
TOPIC 4：X線マルチスケール構造ダイナミクス観察技術の開発
TOPIC 5：陽電子による空孔計測の応用展開