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“見えない界面”を科学する~SFG分光法による界面解析の理論・測定・応用~

2026年1月19日~1月30日開催

  • テクノナレッジ講座(有料)
  • 主催・共催イベント
  • オンライン
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※申込み後、当日の案内メールが届かない方は、お手数ですが以下までご連絡ください。 【申し込み先、本案内に関するお問い合わせ先】 テクノナレッジ講座事務局( MDX-eve-ml@aist-solutions.co.jp )

開催概要

  • プログラム詳細

    本講座はオンラインによるオンデマンド配信です。視聴可能期間中であれば、何度でも繰り返しご覧いただけます。

  • 配信期間

    2026年1月19日(月曜日)10:00~2026年1月30日(金曜日)23:59

  • 受講料金

    22,000円(税込み)

  • 参加にあたっての注意事項

    お申込み締め切りは2026年1月23日(金曜日)17:00までとなります。

本講座について

本講座は、2025年11月に開催した講座「“見えない界面”を非破壊で計測」で紹介したSFG(和周波発生分光)技術を、さらに深く・実践的に学ぶための有料講座で
す。
前回の講座では、SFG分光法の基本原理や他の表面分析手法との違い、そして接着・樹脂・エレクトロニクスなどへの応用事例を中心に紹介しました。
本講座では、SFGの理論、測定の原理と実際、解析手法、さらに応用事例について、順を追って詳しく解説します。
SFGの背景や信号生成の理論的理解から、測定データの取得と解析、実際の応用事例まで、研究・開発の現場でSFGを正しく活用するための基礎と実践を学べる構
成です。

※前回の講座をご覧になっていない方でも、本講座から問題なくご受講いただける構成になっています。

 

 

■SFG分光とは(二次の非線形効果を利用した振動分光法) 

※提供:株式会社東京インスツルメンツ 

 

 

■他の表面分析手法との比較

分析法検出感度分子選択性非破壊性オペランド測定の適用
X線光電子分光 (XPS)数 nm元素△(真空)
飛行時間型二次イオン質量分析 (TOF-SIMS)1~3 nm断片×(破壊)×
赤外反射吸収分光 (IRRAS)数 nm~高(振動)
SFG表面・界面:分子レベル反転対称性の崩れたバルク高(振動)

 

こんな方におすすめ

  • SFG分光法を導入・活用したい研究者・技術者
  • 接着・密着・劣化などの界面課題に取り組む材料・化学系エンジニア
  • 表面・界面構造を非破壊で解析したい方
  • 分光法の基礎知識をお持ちで、SFGを体系的に学びたい方

 

 

■主要ポイント

1.現場課題の解決につながる界面分析
 接着不良、剥離、劣化などの原因を可視化
2.競争力強化に直結する応用
 電子材料・バッテリー・樹脂の性能向上
3.その場観察(オペランド測定)による実環境解析
 温度・電場・動作下での界面挙動を把握
4.既存手法では見えない情報
 分子配向や界面官能基の直接観測
5.産業への波及効果
 製品・技術の化学的エビデンスの確保、新製品開発の加速

 

 

■プログラム(約180分)

テーマ内容
イントロダクション・表面、界面の重要性
・各種界面分析法の比較
SFGの理論・振動分光
・和周波光の発生
・二次非線形光学感受率
SFG測定の実際・SFG測定でわかること
・SFG装置の概要
・測定の例
測定事例紹介・表面処理
・接着剤
・エレクトロニクスなど

※オンデマンド配信のため、質疑応答の時間はございません。
 配信システム上に表示されるアンケートに、講座に関するご質問欄をご用意しております。
 ご記入いただいた内容には、後日あらためて回答いたします。

※講演内容およびプログラム構成は、講師や主催者の都合により一部変更となる場合がございます。

 

 

受講までの流れ

本講座は、産総研グループの「技術コンサルティング」プログラムに基づいて実施されます。
受講の流れは、以下のSTEP1からSTEP3のステップに沿って進みます。

  • STEP1 仮申込み
    • 受講を希望する場合、 有料講座の仮申し込みはこちら ボタンより必要事項をご記入の上、申し込み期日までにお申込みください。
    • 所属会社・機関をご記入された場合、その会社・機関より弊社に対し、下記約款の様式1により、技術コンサルティングの申請をいただいたものとして取り扱います。( 技術コンサルティング約款
    • 申込み時に居住性の確認で「居住者」なおかつ特定類型「該当なし」を選択された方には、STEP2にお進みください。
    • 申込み時に「非居住者」又は「特定類型該当者」を選択された方には、居住性等の確認手続きのため、別途ご連絡を差し上げます。この場合、手続きには時間を要し、受講が叶わない場合がありうることをご了承ください。手続きの完了後、STEP2にお進みください。
  • STEP2 本申込み及びお支払い
    • 弊社より送付します本申込み案内メールに記載された指定日までに受講料をお支払いください。
    • 本申込みの完了により、講座受講のご案内が自動で送られます。本申込み案内メールに記載の受諾書をもって、技術コンサルティング契約が成立いたします。
  • STEP3 受講
    • 講座開催をもって、弊社は技術コンサルティングを実施したものといたします。

 

 

お支払方法

お支払い方法は全てクレジットカード決済のみとさせていただきます。
対応クレジットカード:Visa、Mastercard、JCB、American Express、Diners Club、Discover
※ 3Dセキュア認証に対応したカードをご利用いただきますようお願いいたします。

 

 

特定商取引法に基づく表記

開催日時2026年1月19日(月曜日)10:00~2026年1月30日(金曜日)23:59
申込期日2026年1月23日(金曜日)17:00
募集定員なし
参加費22,000円(税込み)
参加確定通知申込後、参加受付メールを送付
支払方法クレジットカード決済 対応クレジットカード:Visa、Mastercard、JCB、American Express、Diners Club、Discover ※ 3Dセキュア認証に対応したカードをご利用いただきますようお願いいたします。
申込キャンセル・解除一度本申込みまでお申込をいただいた講座のキャンセル又は解除は受けられませんのでご了承ください。
返金開催者都合以外での返金対応はできません。
その他留意事項開催者都合で講座を中止した場合は、全額返金いたします。 ただしクレジットカード決済の場合、実際の返金処理はクレジットカード会社を通じて行われるため、 購入者が返金を受け取れるタイミングは、クレジットカード会社によって異なりますので予めご了承ください。

 

キーワード

接着不良解析

構造材(自動車部材)

電子材料開発(デバイス基板)

バッテリー・エネルギーデバイス

界面解析技術

オペランド測定

講師の紹介

  1. 赤池 幸紀

    産業技術総合研究所 材料・化学領域 研究企画室 企画主幹 (兼)材料基盤研究部門 接着・界面研究グループ 主任研究員

    赤池 幸紀

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